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　　一、專利侵權(quán)判定步驟包括幾種

　　判斷專利是否侵權(quán)，先確認(rèn)專利權(quán)保護(hù)范圍和權(quán)利要求書(shū)內(nèi)容。再分析被指控侵權(quán)產(chǎn)品或方法的技術(shù)特性。然后對(duì)比其與專利權(quán)利要求書(shū)的技術(shù)特征，若包含或相同所有特征，可能構(gòu)成侵權(quán)。

　　《中華人民共和國(guó)專利法》第六十四條

　　發(fā)明或者實(shí)用新型專利權(quán)的保護(hù)范圍以其權(quán)利要求的內(nèi)容為準(zhǔn)，說(shuō)明書(shū)及附圖可以用于解釋權(quán)利要求的內(nèi)容。

　　外觀設(shè)計(jì)專利權(quán)的保護(hù)范圍以表示在圖片或者照片中的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)為準(zhǔn)，簡(jiǎn)要說(shuō)明可以用于解釋圖片或者照片所表示的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)。

　　二、專利侵權(quán)判斷方法有幾種

　　界定專利侵犯行為主要有：“全面覆蓋”原則，即被控產(chǎn)品或方法涵蓋專利所有技術(shù)特性；細(xì)微差異但實(shí)質(zhì)等同構(gòu)成侵權(quán)；還要考慮“禁止反悔”原則，即專利申請(qǐng)者或擁有者對(duì)權(quán)利范圍的限制修改或聲明不能反悔。

　　《中華人民共和國(guó)專利法》第六十四條

　　發(fā)明或者實(shí)用新型專利權(quán)的保護(hù)范圍以其權(quán)利要求的內(nèi)容為準(zhǔn)，說(shuō)明書(shū)及附圖可以用于解釋權(quán)利要求的內(nèi)容。

　　外觀設(shè)計(jì)專利權(quán)的保護(hù)范圍以表示在圖片或者照片中的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)為準(zhǔn)，簡(jiǎn)要說(shuō)明可以用于解釋圖片或者照片所表示的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)。

　　三、專利侵權(quán)判定的基本原則包括幾種

　　專利侵權(quán)判定依據(jù)的原則有：全面覆蓋原則，看被控侵權(quán)產(chǎn)品是否完整再現(xiàn)專利核心技術(shù)方案；等同原則，兩件技術(shù)裝置相似運(yùn)轉(zhuǎn)等可視為等同；禁止反悔原則，專利所有人之前的權(quán)利限制解釋或放棄范圍在侵權(quán)訴訟中不得推翻。

　　《中華人民共和國(guó)專利法》第六十四條

　　發(fā)明或者實(shí)用新型專利權(quán)的保護(hù)范圍以其權(quán)利要求的內(nèi)容為準(zhǔn)，說(shuō)明書(shū)及附圖可以用于解釋權(quán)利要求的內(nèi)容。

　　外觀設(shè)計(jì)專利權(quán)的保護(hù)范圍以表示在圖片或者照片中的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)為準(zhǔn)，簡(jiǎn)要說(shuō)明可以用于解釋圖片或者照片所表示的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)。

　　首先，確定專利權(quán)的保護(hù)范圍，明確專利權(quán)利要求的內(nèi)容。其次，對(duì)被控侵權(quán)產(chǎn)品或方法進(jìn)行分析，判斷其技術(shù)特征。然后，將被控侵權(quán)產(chǎn)品或方法的技術(shù)特征與專利權(quán)利要求的技術(shù)特征進(jìn)行對(duì)比。如果被控侵權(quán)產(chǎn)品或方法包含了專利權(quán)利要求的全部技術(shù)特征，或者與專利權(quán)利要求的技術(shù)特征等同，那么就可能構(gòu)成侵權(quán)。